Member
| Name | 劉建宏/Chien-Hung Liu |
|---|---|
| Title | 教授 兼 循環經濟研究學院副院長 |
| Education | 成功大學 機械工程學系 博士 |
| Office Phone | 04-22840433 ext.310 |
| Office | 機械系館3樓 P310 |
| carusliuemail.nchu.edu.tw | |
| Division | 精密製造組、固力設計組、系統控制組 |
| Laboratory | 應科大樓4樓 AT421 AT405 |
| Laboratory Phone | 04-22840165 ext.4051 OR 04-22840165 ext.4211 |
| Website | 光機電精密工程實驗室 |
| Research Expertise | 精密量測 精密儀器設計 光機電系統整合 感測器與人工智慧 碳纖維加工整合設備 |
國立成功大學 機械工程學系 博士(~2000)
1.校內重要職務
- 現任中興大學循環經濟研究學院副院長
- 曾任中興大學副研發長
2.校外重要職務
- 中國機械工程師學會會士
- 現任國際期刊 Smart Science 主編
- 現任國際期刊 Inventions 主編
- 台灣智能儀器發明學會 理事長
- 2019、2021與2023年擔任中華民國自動化科技學會理事
- 2019年擔任國際亞洲精密工程學會(ASPEN)委員會委員。
- 2019、2021與2023年至今擔任台灣精密工程學會理事
- 2020與2023年擔任中國機械工程學會理事
- 2020、2021與2022年榮獲中興大學產學績優獎
- 2021、2022與2023年受邀擔任SBIR審查委員
- 2021年擔任技術處A+審查委員
- 2021年擔任CITD審查委員
- 固力學門複審委員
- 熱流及航太學門複審委員
- 國科會固力學門小產學複審委員
- 國科會自動化學門技專實務產學複審委員
- 工研院機械所特聘研究
1.個人獲獎
- 2004年以『繞射式四自由度三角雷射讀頭』獲中華民國計量工程師學會第一屆『科技研發創意獎』第一名
- 2005年以『一種新型奈米級五自由度重負荷疊積式平台之建構』獲得『中國工程師學會工程論文獎』
- 2007年獲得經濟部第三屆『奈米產業科技菁英獎』。
- 2010年獲得國科會『吳大猷先生紀念獎』。
- 2013年以『多軸工具機量測裝置』獲得『國家發明創作獎』發明獎金牌
- 2017年榮獲科技部技術移轉績優獎
- 2019年榮獲108年科技部『學術產業創業先鋒獎』
- 2019年榮獲108年度中國機械工程學會『傑出工程教授獎』
- 2020、2021與2022年榮獲中興大學產學績優獎
2.指導學生競賽獲獎
- 2018年指導學生劉承育與藍軍凱獲得誠泰科技論文獎研究生組第一名。
- 2015 年指導學生彭哲信獲得國家實驗研究院儀器科技研究中心舉辦第七屆『I-ONE國際科技儀器創新獎』獲第三名
- 2015年指導學生參加程泰集團[精密工具機與自動化技術]專題實作獎與2015中興大學[精密工具機自動化技術]專題實作競賽，獲得專題生組第三名
- 2015 年2014年指導學生彭哲信獲得國家實驗研究院儀器科技研究中心舉辦第七屆『I-ONE國際科技儀器創新獎』獲第三名
- 2015年指導學生參加程泰集團[精密工具機與自動化技術]專題實作獎與2015中興大學[精密工具機自動化技術]專題實作競賽，獲得專題生組第三名
- 2014年指導學生獲得經濟部搶鮮大賽創意發想類組優秀作品獎
- 2014年指導學生獲得韓國首爾國際發明獎銀牌
- 2014 年指導學生獲得韓國青少年發明獎金牌
- 2014年指導學生獲得澳門國際發明創新競賽銀牌獎
- 2014年指導學生吳浩凱獲得國家實驗研究院儀器科技研究中心舉辦第六屆『I-ONE國際科技儀器創新獎』獲佳作
- 2013年指導學生吳重諭參加中台灣創新研發競賽榮獲第三名。
- 2013年指導學生吳浩凱獲得國家實驗研究院儀器科技研究中心舉辦第五屆『I-ONE國際科技儀器創新獎』獲第三名
- 2013年指導學生參加程泰集團[精密工具機與自動化技術]專題實作獎與2013中興大學[精密工具機自動化技術]專題實作競賽，獲得研究生組第三名
- 2012年指導學生謝宗廷榮獲第十一屆NI應用徵文比賽學術組佳作。
- 2012年獲得榮獲義大利國際發明獎金牌。
- 2011年指導學生鄭仲祥榮獲第八屆上銀碩士論文獎佳作
- 2010年指導學生李羿宗獲得國家實驗研究院儀器科技研究中心舉辦第二屆『I-ONE國際科技儀器創新獎』獲首獎第一名
- 2009年指導學生林亦全獲得國家實驗研究院儀器科技研究中心舉辦第一屆『I-ONE國際科技儀器創新獎』獲首獎第一名
期刊論文
| # | 標題 |
|---|---|
| 1 | CK. Lan, C. Y. Wu, CW. Chang, HW. Lee, and CH. Liu (2018,Nov) A Novel Joint Angle Measurement and Calibration System for Selective Compliance Assembly Robot Arm, Sensors and Materials, 30, 2615-2626 |
| 2 | CW. Chang, HW Lee, CH. Liu (2018, Jun) A Review of Artificial Intelligence Algorithms Used for Smart Machine Tools, Inventions, 2018, 3 (3), 41 |
| 3 | HW Lee, CH Liu (2016, Jul). High Precision Optical Sensors for Real-Time Online Measurement of Straightness and Angular Errors for Smart Manufacturing. Smart Science, 4 (3), 134-141. (SCOPUS,ESCI) |
| 4 | HW Lee, TP Chiu, CH Liu (2016, May). A 3D Optical Sensor Using Optical Axis Deviation Method for Rotational Errors. Sensors and Materials, 28 (9) 1053-1066. (SCIE) |
| 5 | HW Lee, K.Y Huang, HT. Peng, CH. Liu (2016, Apr). A real time error measuring device for meso-scale machine tools. Sensors and Actuators A: Physical, 244(15),213–222. (SCI) |
| 6 | SL Tsai, YK Liu, H Pan, CH Liu and MT Lee (2016, Jan). The Coupled Photothermal Reaction and Transport in a Laser Additive Metal Nanolayer Simultaneous Synthesis and Pattering for Flexible Electronics. Nanomaterials, 6(1), 12. (SCIE) |
| 7 | ZS Yan, WH Lin, CH Liu (2015, Jan). Measurement of the thermal elongation of high speed spindles in realtime using a cat’s eye reflector based optical sensor. Sensors and Actuators A: Physical, 221, 154–160. (SCIE) |
| 8 | CC Liu and CH Liu (2014, Sep). Analysis of nonlinear dynamic behavior of electrically actuated micro-beam with piezoelectric layers and squeeze-film damping effect. Nonlinear Dynamics, 77(4), 1349- 1361. (SCI). |
| 9 | GY Zhuang, HW Lee, and CH Liu (2014, Aug). Determination of the position and orientation of a flat piezoelectric micro-stage by moving the optical axis. Review of Scientific Instruments, 85, 105004 (2014). |
| 10 | HW Lee, CH Liu, and JS Chen (2014, Jun). Development of a High Precision Edge Alignment System for Touch-Panel Glass Substrates. Advances in Mechanical Engineering, 904061, 11. (SCIE). |
| 11 | HW Lee and CH Liu (2014). Development of a steel ball center alignment device based on Michelson interference concept. Review of Scientific Instruments, 85, 095115 (SCI). |
| 12 | HW Lee, WH Lin and CH Liu (2014). Development of a Radial Error Measurement Device for Rotary Tables. Journal of . the Chinese Society of Mechanical Engineers, 35(2), pp 149~156. (SCIE). |
| 13 | HW Lee, TT Hsieh, CC Liu, and CH Liu (2014). Development of a Flat Type Six-Axis Stage Based on Piezoelectric Actuators. Mathematical Problems in Engineering, 523786, 16. (SCIE). |
| 14 | TH Hsieh, HL Huang, WY Jywe, and CH Liu (2014). Development of a machine for automatically measuring static/dynamic running parallelism in linear guideways. Review of Scientific Instruments, 85, 035115. (SCI). |
| 15 | HW. Lee and C. H. Liu (2013). Vision Servo Motion Control and Error Analysis of a Coplanar XXY Stage for Image Alignment Motion. Mathematical Problems in Engineering. 592312 |
| 計畫名稱 | 擔任工作 | 起訖年月 | 補助機構 |
|---|---|---|---|
| 熱塑拉擠複材研究計畫(一) | 主持人 | 59-01-01 ~ 59-01-01 | 旺來企業股份有限公司 |
| 碳纖維複合材料製造技術合作與人才訓練培育計畫(一) | 主持人 | 113-09-24 ~ 113-09-24 | 上緯國際投資控股股份有限公司 |
| 建構五軸工具機熱變位與精度調機量測關鍵技術 | 主持人 | 113-09-24 ~ 113-09-24 | 台中精機 |
| 中興大學-興創智慧機械‧新農業產業加速育成計畫 | 主持人 | 113-09-24 ~ 113-09-24 | 科技部中部科學園區管理局 |
| 工具機智慧主軸加值化與智慧檢測技術 | 主持人 | 113-09-24 ~ 113-09-24 | 教育部 |
| 超音波振幅量測之研究開發 | 主持人 | 113-09-24 ~ 113-09-24 | 新代科技 |
| 無線化之五軸工具機高速線上精度調校系統開發 | 主持人 | 113-09-24 ~ 113-09-24 | 友嘉實業股份有限公司 |
| 無線化之五軸工具機高速線上精度調校系統開發 | 主持人 | 113-09-24 ~ 113-09-24 | 百德機械股份有限公司 |
| 光學角度量測技術應用於生產環境感知技術優化分析與實證計畫 | 主持人 | 113-09-24 ~ 113-09-24 | 財團法人資訊工業策進會 |
| 創新發展具內藏位移感測器之結構件應用於工具機熱變位即時量測 | 主持人 | 109-08-01 ~ 110-07-03 | 國科會 |
| 應用於五軸工具機多軸同動量測之創新式雷射雙球桿與正交球窩陣列圓盤量測儀 | 主持人 | 108-08-01 ~ 109-07-31 | 國科會 |
| 發展創新方形光路雷射量測系統應用於工具機大區域範圍的熱變位量測與建模技術 | 主持人 | 111-08-01 ~ 112-07-31 | 國科會 |
| 機械手臂空間位置誤差線上量測系統開發 | 主持人 | 110-08-01 ~ 111-10-30 | 科技部 |
| 價創計畫：智慧機械之線上量測儀器與資訊智慧整合開發 106-3114-8-005 -003 - | 主持人 | 106-05-01 ~ 107-04-30 | 科技部 |
| 提昇離心泵葉片五軸量測及加工精度系統整合與誤差補償技術--子計畫五：五軸加工機線性軸之多自由度誤差量測與補償技術之建立(3/3) | 主持人 | 59-01-01 ~ 59-01-01 | 國科會 |
| 全電式奈米級壓印設備與製程技術之研發--子計畫二：奈米轉印微影技術之多自由度定位、對準與調平量測技術開發 | 主持人 | 59-01-01 ~ 59-01-01 | 國科會 |
| 應用於大尺寸工件量測之直度即時補償掃描平台之開發 | 主持人 | 59-01-01 ~ 59-01-01 | 國科會 |
| 奈米轉印微影技術之多自由度定位、對準與調平量測技術開發 | 主持人 | 59-01-01 ~ 59-01-01 | 國科會 |
| 壓電致動器與整合式撓性變形機構之三自由度(Z-tilts)平台之研製 | 主持人 | 59-01-01 ~ 59-01-01 | 國科會 |
| 微/奈米級多自由度量測系統之開發 | 主持人 | 59-01-01 ~ 59-01-01 | 國科會 |
| AI於智慧機台系統開發：Arvis專業助理、機台預診與精度維持 | 共同主持人 | 107-01-01 ~ 108-02-28 | 國科會 |
| 結合新穎線上檢驗與力控技術實現工具機與機械手臂精確執行虛實智慧化拋光研磨加工整合研發計畫(1/4) | 共同主持人 | 110-06-01 ~ 112-12-31 | 科技部 |
| 五軸線馬車銑加工機前瞻核心技術精進II | 共同主持人 | 109-09-01 ~ 110-06-30 | 科技部 |
| 五軸線馬車銑加工機前瞻核心技術精進 | 共同主持人 | 106-05-01 ~ 109-04-30 | 國科會 |
| # | 標題 |
|---|---|
| 1 | Hybrid six-degree-of-freedom nano-scale precision positioning platform system ，TWI425334，Wen-Yuh Jywe;Jin-Zhong Shen;Chien-Hung Liu;Jia-Hong Wu;Qun-Zhong Lu;Ying-Dai Yu , 2014/02/01 |
| 2 | Signal measurement system with dual grating ，TWI414756 ，Wen-Yu Jywe; Chien-Hung Liu ; Yun-Feng Deng; Bo-Yu Chen，2013/11/11 |
| 3 | Manufacturing-process equipment，US8575791 B2，Wen-Yuh Jywe,Jing-Chung Shen,Chin-Tien Yang,Chien-Hung Liu,Jau-Jiu Ju,Chia-Hung Wu,Chun-Chieh Huang,Lili Duan,Yuan-Chin Lee，2013/11/5 |
| 4 | Nanoscale piezoelectric alignment platform mechanism with two degrees of freedom ，TWI410295，Wen-Yu Jywe;Chien-Hung Liu ; Yun-Feng Deng; Bo-Yu Chen，2013/10/01 |
| 5 | Spherical lens testing device for precision machine ，TWI404910，Wen-Yu Jywe;Dong-Hui Xu;Chien-Hung Liu;Zi-Hao Lin;Yu-Shan Lin，2013/08/11 |
| 6 | Laser direct-writing type manufacturing apparatus for nano periodic structure pattern ，TWI405049，Wen-Yuh Jywe;Jing-Chung Shen ;Chin-Tien Yang;Chien-Hung Liu;Jau-Jiu Ju;Chia-Hung Wu;Chun- Chieh Huang;Lili Duan;Yuan-Chin Lee，2013/08/11 |
| 7 | Dynamic path detection method for five-axis machine tool and device thereof，TWI405057，Chien-Hung Liu; Jywe Wen-Yu Jywe;Yi-Zong Li，2013/08/11 |
| 8 | Device for detecting multi-axis errors of pick-and-place mechanism by utilizing split beam ，TWI401420，Wen-Yu Jywe;Chien-Hung Liu;Dong-Hui Xu;Yu-Shan Lin;Li-Li Duan，2013/07/11 |
| 9 | Apparatus applied to pick-and-place mechanism positioning and angle error of single light source inspection and testing，TWI401554，Wen-Yu Jywe;Chien-Hung Liu ;Dong-Hui Xu;Yu-Shan Lin;Li-Li Duan，2013/07/11 |
| 10 | Device and method of using laser interferometer for detecting angle error，TWI398622，Wen-Yuh Jywe;Deng-Yu Yang;Chien-Hung Liu;Tung-Hui Hsu;I-Ching Chen，2013/06/11 |
| 11 | Straightness error measurement device ，TWI398877，Chien-Hung Liu ;Wen-Yu Jywe;Jun-Yao Huang，2013/06/11 |
| 12 | Framework for measuring thickness and refraction index of transparent substrate ，TWI390174，Chien-Hung Liu;Wen-Yu Jywe;Xin-He You;Wei-Quan Huang; Zhong-Xiang Zheng; Hao-Wen Zhang;Guan-Hong Ye;Zhong-You Liu，2013/03/21 |
| 13 | Device for measuring linear frictional resistance ，TWI390198，Wen-Yu Jywe;Chien-Hung Liu ; Yun-Feng Deng;Dong-Xian Xie;Cheng-Hong Cai; Zhe-Xu Feng;Xin-Zheng Chen ，2013/03/21 |
| 14 | Device for measuring the error of pick-up mechanism by using split light beam and dynamic sensor ，TWI388030，Wen-Yu Jywe;Chien-Hung Liu ;Dong-Hui Xu;Yu-Shan Lin;Li-Li Duan，2013/03/01 |
| 15 | Non-contact measurement method for thread shape of lead screw and screw nut and its device，TWI385355，Wen-Yu Jywe;Chien-Hung Liu ; Li-Li Duan; Xue-Liang Huang; Jia-Tai Wu，2013/02/11 |
| 16 | Device of applying a single light source to detect dual axis errors of a pick-and-place mechanism，TWI384196，Wen-Yu Jywe;Chien-Hung Liu;Dong-Hui Xu;Yu-Shan Lin;Ren-Jie Fang;Min-De Yang;Li-Li Duan，2013/02/01 |
| 17 | Device and method of using laser light source for scanning scrapped surface ，TWI383125，Wen-Yuh Jywe; Chien-Hung Liu;Hung- Shu Wang;Chia-Hung Wu;Bo-Wei Chen;Wei-Cheng Tsai;Wei-Chung Chang;Meng-Tse Lee，2013/01/21 |
| 18 | Measurement system for alignment and level adjustment of embossing platform ，TWI383466，Wen-Yu Jywe; Chien-Hung Liu;Hong-Guang Chen;Dong-Xian Xie ;Yun-Feng Deng，2013/01/21 |
| 19 | Detecting assembly for a multi-axis machine tool，EP2340914 B1，Wen-Yuh Jywe,Chien-Hung Liu,Tung-Hui Hsu,Chia-Ming Hsu，2012/12/26 |
| 20 | Two stage type long stroke nano-scale precision positioning system. ，TWI379732，Wen-Yu Jywe;Chien-Hung Liu;Jin-Zhong Shen;Bo-Zheng Lin;Jia-Hong Wu; Chien-Hung Liu;Li-Li Duan;Dong-Xian Xie;Dong-Xing Xie;Yi Jing Chen;Ren-Jie Fang，2012/12/21 |
| 21 | Measurement device for multi-axis machine tool，TWI378843 (B)EP2340914 (A1)EP2340914 (B1)JP2011137812 (A)JP5038481 (B2)，Wen-Yu Jywe;Chien-Hung Liu;Dong-Hui Xu;Jia-Ming Xu，2012/12/11 |
| 22 | Optical ruler system having five degrees of freedom，TWI414747，Chien-Hung Liu;Zhong-Xian Zheng，2012/11/16 |
| 23 | A contactless vibration measurement device ，TWI372857，Wen-Yuh Jywe;Chien-Hung Liu;Dong-Xian Xie; Xin-Hao Deng;Yun-Feng Deng;Xin-Zheng Chen;Cheng-Hong Cai，2012/09/21 |
| 24 | Static torque measurement device for linear motion unit ，TWI361886，Wen-Yu Jywe;Chien-Hung Liu;YunFengDeng;Dong-Xian Xie;Cheng-Hong Cai;Zhe-Xu Feng;Xin-Zheng Chen，2012/04/11 |
| 25 | Method of detecting a dynamic path of a five-axis machine tool and detecting assembly for the same，US8116902 B2，Chien-Hung Liu,Wen-Yuh Jywe,Yi-Tsung Li，2012/2/14 |
| 26 | Automatic scan and mark apparatus，US8111405 B2，Wen-Yuh Jywe, Chien-Hung Liu, Hung-Shu Wang,Bo-Wei Chen,Jyun-Jia Yang,Wei-Cheng Tsai,Wei-Chung Chang,Ming-Chi Chiang,Jia-Hong Chen，2012/2/7 |
| 27 | Parallel measuring apparatus among transparent body and reflection body and method thereof ，TWI345624，Chien-Hung Liu;Wen-Yuh Jywe;Xian-Chang Ye;Zhi-Peng Wang;Shu-Hao Zheng;Kai-Zhang Lin;Jun Zhao;Zong-Xian Zheng;Han-Xing Huang;Zhi-HaoZhang，2011/07/21 |
| 28 | Five-axis tool machine detection device，TWI340679，Wen-YuJywe;Chien-Hung Liu;Yi-Zong Li ;Dong-Xian Xie ;Dong-Hui Xu ;Hong-Shu Wang，2011/04/21 |
| 29 | Detecting assembly for a multi-axis machine tool，US7852478 B1，Wen-Yuh Jywe,Chien-Hung Liu,Tung-Hui Hsu,Chia-Ming Hsu，2010/12/14 |
| 30 | Means for measuring a working machine´s structural deviation from five reference axes，US7773234 B2，Wen-Yuh Jywe,Chien-Hung Liu,Yi-Tsung Li,Tung-Hsien Hsieh,Tung-Hui Hsu,Hung-Shu Wang，2010/8/10 |
| 31 | System for detecting error of multi-axis processing machine and method thereof ，TWI326630，Wen-Yuh Jywe; Chien-Hung Liu;Dong-Hui Xu; You-Ren Zheng;Yi-Zong Li，2010/07/01 |
| 32 | Parallelism measurement device for movements on linear slide-rail ，TWI326746，Wen-Yuh Jywe;Chien-Hung Liu;Dong-Xian Xie;Yun-Feng Deng，2010/07/01 |
| 33 | Device for sensing positioning error of pick-and-place mechanism by applying dynamic sensor，TW201012607，Wen-Yuh Jywe;Chien-Hung Liu;Dong-Hui Xu;Yu-Shan Lin;Ren-Jie Fang;Min-De Yang;Li-Li Duan，2010/04/01 |
| 34 | A thickness measuring system with astigmatic method for transparent and semi-transparent objects ，TWI318681，Chien-Hung Liu;Wen-Yuh Jywe;De-Hua Fang;Liang-Wen Ji;Zong-Han Li;Xian-Chang Ye，2009/12/21 |
| 35 | Heat dissipation seat ，TWI315781，Xian-ZhongCheng;Wen-Yuh Jywe;Chien-Hung Liu;Te-Hua Fang;Yan-Zhan Wang，2009/10/11 |
| 36 | All-electric nanoscale imprinter ，TWI312730，Chien-Hung Liu; Wen-Yuh Jywe; Cai-Yuan Chen; Rui-Hong Chen; Wan-Jun Zhao;Kai-Zhang Lin;Zhi-Hao Zhang;Zhao-Heng Liu;Han-Xing Huang ;Shu-Hao Zheng;Zong-Xian Zheng，2009/08/01 |
| 37 | Static/dynamic multi-function measuring device for linear unit，US7636170 B1，Wen-Yuh Jywe,Chien-Hung Liu,Tung-Hsien Hsieh,Yun-Feng Teng，2008/9/12 |
| 38 | A nano-grade 3-DOF micro platform mechanism，TWI300733，Chien-Hung Liu;Wen-Yuh Jywe;Yi-Zong Li;Dong-Hui Xu;Hong-Shu Wang，2008/09/11 |
| 39 | 3-DOF Z-tilts nano-platform and its measuring system，TW20060148762，Chien-Hung Liu，Wen-Yuh Jywe;De-Hua Fang;Liang-Wen Ji;Tsai-Yuan Chen;Jia-Hung Wu;Hung-Shu Wang，2008/7/7 |
| 40 | A system for detecting errors of a one-dimensional five degrees of freedom(DOF) system，TWI292816，Chien-Hung Liu;Wen-Yuh Jywe;Qi-Chen Xie;Dong-Xian Xie;Chen-Xue Hong;Jun-Hao Huang;Dong-Hui Xu，2008/01/21 |
| 41 | Non-contact bidirectional laser probe ，TWI292817，Chien-Hung Liu;Wen-Yuh Jywe;Te-Hua Fang;Liang-Wen Ji;Chao-Gui Chen;Zhi-Peng Wang;Wei-Quan Huang;Zhao-Fan Chen;Zong-Wei Liao，2008/01/21 |
| 42 | A system for detecting errors of a one-dimensional five degrees of freedom(DOF) system ，TWI292816，Chien-Hung Liu；Wen-Yuh Jywe;Qi-Chen Xie;Dong-Xian Xie;Chen-Xue Hong;Jun-Hao Huang;Dong-Hui Xu，2008/01/21 |
| 43 | Non-contact bidirectional laser probe ，TWI292817，Chien-Hung Liu;Wen-Yuh Jywe;De-Hua Fang;Liang-Wen Ji;Chao-Gui Chen;Zhi-Peng Wang; Wei-Quan Huang; Zhao-Fan Chen; Zong-Wei Liao，2008/01/21 |
| 44 | Mechanism to eliminate the backlash of servo motor ，M324344，Wen-Yuh Jywe;Chien-Hung Liu;Yu-Ying Chiou，2007/12/21 |
| 45 | Nano-scaled error-inspecting system of rotary shafts ，M323050，Chien-Hung Liu;Wen-Yuh Jywe;Wen-Shiang Lin，2007/12/01 |
| 46 | Highly precise two-stage triangulation laser con-focal probe ，TWI290211，Chien-Hung Liu; Wen-Yuh Jywe;De-Hua Fang;Liang-Wen Ji;Chao-Gui Chen;Zhi-Peng Wang;Jian-Ping Liu;Yu-Xiang Wang;Yang-Dong Chen，2007/11/21 |
| 47 | Aligning mechanism ，M321342，Wen-Yuh Jywe;Chien-Hung Liu;Yu-Ying Chiou，2007/11/01 |
| 48 | Vibration measuring system with two axes and six degree of freedom ，TWI287613，Chien-Hung Liu;Wen-Yuh Jywe;Liang-Wen Ji;Dung-Shian Shie;Hung-Shu Wang;Chi-Chen Shie;Dung-Huei Shiu;Te-Hua Fang，2007/10/01 |
| 49 | System and method is used with theory of optical aberration for measuring free camber ，TWI287614，Chien-Hung Liu;Wen-Yuh Jywe;Zhi-Peng Wang;Liang-Wen Ji;Te-Hua Fang，2007/10/01 |
| 50 | Measuring error method for high precision and nano-scale rotation axis and the apparatus thereof ，TWI287616，Chien-Hung Liu;Wen-Yuh Jywe;Te-Hua Fang;Liang-Wen Ji;Hsueh-Liang Huang;Shing-Ju Wu;Wang Hung-Shu，2007/10/01 |
| 51 | Testing method of the straightness error using double-beam laser diffraction meter and the system thereof，TWI287617，Chien-Hung Liu;Wen-Yuh Jywe;Meng-Qian Li;Dong-Hui Xu;Te-Hua Fang，2007/10/01 |
| 52 | 4 drive alignment platform ，M319503，Wen-Yuh Jywe;Chien-Hung Liu;Yu-Ying Chiou，2007/09/21 |
| 53 | High precision rotation revolving thermal deformation measurement system ，TWI285254，Chien-Hung Liu;Wen-Yuh Jywe;Yun-Feng Teng;Chang-Tian Qiu;Hong-Shu Wang，2007/08/11 |
| 54 | Device for measuring rotation axis error using cat´s-eye reflector，TWI283736，Chien-Hung Liu;Wen-Yuh Jywe;Yi-Xin Lin;Hsueh-Liang Huang，2007/07/11 |
| 55 | Optical measurement unit for real-time measuring angular error of platform and the method thereof ，TWI274139，Chien-Hung Liu;Wen-Yuh Jywe;Chi-Chen Shie;Dung-Huei Shiu，2007/02/21 |
| 56 | Tri-axis vibration measuring device adopting cube corner prism and quadrant sensor to establish nano-resolution ，TWI271513，Wen-Yuh Jywe;Chien-Hung Liu;Dung-Shian Shie;Chi-Chen Shie，2007/01/21 |
| 57 | Dual-axis and five degree-of-freedom measuring device and method ，TWI263036，Wen-Yuh Jywe;Chien-Hung Liu;Yun-Feng Teng;Shiou-De Lin ，2006/10/01 |
| 58 | Error-measuring apparatus for nano-scale rotary axis，TWI260394，Wen-Yuh Jywe;Chien-Hung Liu;Shing-Ju Wu;Hsueh-Liang Huang，2006/08/21 |
| 59 | A real time straightness error measuring method for a moving stage，200617364，Chien-Hung Liu;Wen-Yuh Jywe;Hau-Wei Li，2006/06/01 |
| 60 | Diffractive positioning 5-degree of freedom measuring device that uses optical interference and diffractive theories ，TWI249609，Wen-Yuh Jywe;Chien-Hung Liu;Lung-Tien Li，2006/02/21 |
| 61 | Diffractive angle positioning multi-degree of freedom measuring device ，TWI249610，Wen-Yuh Jywe;Chien-Hung Liu;Lung-Tien Li;Hsueh-Liang Huang，2006/02/21 |
| 62 | Optical revolving spindle error measurement device，TWI247095，Wen-Yuh Jywe;Chien-Hung Liu;Yi-Shin Lin;Lung-Tien Li，2006/01/11 |
| 63 | Device for measuring linear dual axis geometric tolerances ，I245878，Wen-Yuh Jywe;Chien-Hung Liu;Hsueh-Liang Huang，2005/12/21 |
| 64 | Diffraction-type triangular laser pickup head and error inspection method thereof ，TWI243888，Wen-Yuh Jywe;Chien-Hung Liu;Chau-Guei Chen;Chung J Chiang;Jian-Che Suen，2005/11/21 |
| 65 | A kind of apparatus using transmission grating to measure rotation axis errors ，TWI239385，Wen-Yuh Jywe ; Chien-Hung Liu;Jiun-Ren Chen;Jr-Wei Lian，2005/09/11 |
| 66 | Device for measuring on a 2D plane with optical ruler measuring technique combined with atomic force probe ，TWI235228，Wen-Yuh Jywe;Rung-Ching Lin;Chien-Hung Liu;Jing-Tang Jou;Jiun-Ren Chen，2005/07/01 |
| 67 | Miniature arbor revolving precision measurement device ，TWI235233，Wen-Yu Jywe;Chien-Hung Liu;Hau-Wei Li，2005/07/01 |
| 68 | Optical real-time measurement method and system with single-axis, 6 degrees of freedom ，TWI232923，Wen-Yuh Jywe ;Chien-Hung Liu;Cheng-Chun Hsu，2005/05/21 |
| 69 | A three-dimensional measuring system for vibration and displacement using quadrant detector and laser diode，TWI231365，Wen-Yu Jywe;Chien-Hung Liu;Jing-Tang Jou，2005/04/21 |
| 70 | A device and method of reflective diffraction grating measure revolving spindle ，TWI220688，Wen-Yuh Jywe; Chien-Hung Liu;Chih-Wei Lien，2004/09/01 |
| 71 | System capable of measuring five degrees of freedom signals ，591199，Wen-Yuh Jywe;Chien-Hung Liu;Lung-Tian Li;Rung-Ching Lin;Ming-Kuen Tsai，2004/06/11 |
| 72 | Simplified glass thickness measurement system ，591203，Wen-Yuh Jywe;Chien-Hung Liu,Chih-Wei Lien，2004/06/11 |
| 73 | A 3D measuring system using diffraction grating interfere interferometry technique ，588152，Wen-Yuh Jywe; Chien-Hung Liu;Lung-Tien Li，2004/05/21 |
| 74 | Ring grating type rotational axis measurement system with 5 degrees of freedom ，585988，Wen-Yuh Jywe; Chien-Hung Liu;Rung-Ching Lin;Yun-Feng Deng;Kai-An Jeng，2004/05/01 |
| 75 | Measurement system with 6 degrees of freedom by 2D optical rule ，201878，Wen-Yu Jywe;Chien-Hung Liu;Kai-An Jeng;Yun-Feng Deng;Dung-Huei Shiu，2004/05/01 |
| 76 | Measurement system with four degrees of freedom built through the optical grating diffraction principle ，201880，Wen-Yu Jywe;Chien-Hung Liu;Jiun-Ren Chen;Jau-Guei Chen，2004/05/01 |
| 77 | Method using a grid encoder to detect error of platform of six-degree of freedom ，201367，Wen-Yu Jywe;Chien-Hung Liu ;Dung-Huei Shiu;Jing-Tang Jou ;Kai-An Jeng，2004/04/21 |